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全自動熱脫附儀測試過程中需排除外界的干擾
點擊次數(shù):1059 更新時間:2022-07-29
     全自動熱脫附儀作為一種氣相色譜的無溶劑萃取技術(shù)已經(jīng)得到越來越廣泛的應(yīng)用。這一技術(shù)具有靈敏度高、快速簡單、使用范圍廣等特點。適用于氣相色譜兼容的空氣和材料中揮發(fā)和半揮發(fā)有機(jī)物的分析,包括空氣、半導(dǎo)體材料、聚合物、室內(nèi)裝飾、家具包裝材料、藥物、及風(fēng)味分析檢測等等;分析范圍可以包含揮發(fā)性大于n-C40的有機(jī)物和少量的無機(jī)物。
    在整個分析過程中,影響結(jié)果準(zhǔn)確性的主要步驟包括采樣過程、解吸管脫附過程,以及樣品上機(jī)分析過程。采樣過程的影響,主要是環(huán)境狀態(tài),解吸管選型和采樣的條件設(shè)置;脫附過程的影響主要是脫附效率,以及樣品組份在脫附后到進(jìn)入氣相過程中的整個體系的氣密性;樣品上機(jī)分析的準(zhǔn)確性主要在于如何排除雜質(zhì)的干擾。
    需要對解吸管本身的雜質(zhì)進(jìn)行判斷分析,不同類型的解吸管本身的雜質(zhì)會有所差異。對于新購買的解吸管,在使用正確的老化方法進(jìn)行老化后,解吸管本身的本底應(yīng)該是不會被檢出的。一般解吸管的本底會在多次使用后逐漸出現(xiàn)。除了解吸管的本底雜質(zhì),在熱脫附-氣相色譜分析過程中儀器本身也會有雜質(zhì)出現(xiàn):
    在無熱解吸管進(jìn)樣時,熱脫附體系也會有本底干擾,其主要來源可能有:用來進(jìn)行系統(tǒng)密封的墊圈流失;色譜柱本身的柱流失;冷阱的流失,冷阱因含有聚合物基質(zhì)而出現(xiàn)的苯的本底。出現(xiàn)這一情況時,一般可以通過不進(jìn)樣的方式(儀器空白/熱脫附空白等)來進(jìn)行排查。
    總的來說,使用進(jìn)行分析檢測時,采樣過程、脫附過程以及分析過程都對分析結(jié)果具有重要的影響。在分析過程中為了保證 全自動熱脫附儀測試結(jié)果的準(zhǔn)確性,需要排除系統(tǒng)的干擾和環(huán)境的干擾。
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